半导体式表面污染测量仪_机械及行业设备_求购

半导体式表面污染测量仪

开采时间：2023-07-27 09:05
报价截止：长期有效期
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NHJ2半导体式表面污染测量仪用于测量α、β和γ，采用硅半导体探测器。该仪表小巧轻便且探测效率高，且具有自检、通信、存储等丰富的功能。

半导体式表面污染测量仪特性：

l 采用半导体探测器，不需定期交换探测器，经济

l 量程宽，精度高，测量范围为 0.00 min-1-99.99 kmin-1

l 采用彩色有机EL显示屏

l 其画面明亮且宽视角，易于目视

l 测量值和时间可保存1200点

l 具有自我诊断功能

l 测量值可通过 USB 接口存储到计算机

技术规格：

测定射线		α 射线、β 射线、γ 射线
探测器		硅半导体
显示范围		0.00min- 1 - 99.99 kmin- 1 0count - 9999.99 kcount- 1 0.0μSv/h - 999.99 mSv/h (γ 剂量率)
探测效率		α射线 241Am 20% β射线 36Cl 25 %，90Sr-90Y 30 %
时间常数		1、3、10 秒，自动
趋式数据存储		1200 点
数据输出		USB 接口
电池寿命		连续显示6个小时以上
间歇显示		7 小时以上 (5分钟当中显示1分)
电源		5号碱性电池6节镍氢充电式电池6节（另选） AC 100 V ~ 240 V，AC 适配器（另选）
工作温度		-5 ℃ ~ +45 ℃ / 23 ?F - 113 ?F
工作湿度		≤ 90 %RH，（无结露）
尺寸		120(W)×56(H)×293(D) mm
质量		约0.75 kg / 1.65 lb. （不含电池）
依据标准		IEC 60325 (2002)，JIS Z 4329 (2004)

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