KP Technology扫描开尔文探针-材料表征

KP Technology扫描开尔文探针-材料表征
扫描开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置,用于测试导电材料的功函或半导体材料表面的表面电势，表面功函。由材料表面z顶部的1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界z高分辨率的测试系统。

KP Technology扫描开尔文探针-材料表征

主要特点：
● 功函分辨率< 3meV
● 扫描面积：5mm to 300mm（四种型号，每种型号扫描面积不同）
● 扫描分辨率：317.5nm
● 自动高度调节
应用领域：
● 有机和非有机半导体
● 金属
● 薄膜
● 太阳能电池和有机光伏材料
● 腐蚀
升级附件：
● 大气光子发射系统
● 表面光电压(QTH or LED)
● SPS表面光电压光谱(400-1000nm)
● 金或不锈钢探针，直径0.05mm to 20mm
● 相对湿度控制和氮气环境箱

更多详情：
http://www.airtest.net.cn/Products-30824247.html
https://www.chem17.com/st17159/product_30824247.html