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基于Phasics四波横向剪切干涉技术，SID4波前分析仪具备了很高的的相位和强度分辨率（160x120测量点），且使用简便。
SID4-HR 光学器件测量 自适应光学
phasics SID4波前传感器特点：
由于其的技术，Phasics的SID4波前传感器具备以下特点：
1.超高分辨率：160x120测量点
2.直接测量发散和准直光束
3.从400到1100nm消色差
4.自校准：振动不敏感和容易对齐
5.紧凑，体积小
phasics SID4波前传感器应用：
SID4波前传感器提供新的可能性应用：
激光：光束诊断、自适应光学
光学：精密透镜测试和表面测量
生物学：显微自适应光学
SID4产品参数：
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波长范围 |
400 - 1100 nm |
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通光孔径 |
3.6 x 4.8 mm2 |
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空间分辨率 |
29.6 µm |
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采样点（相位/强度） |
160 x 120 (> 19 000 points) |
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相位相对灵敏度 |
< 2 nm RMS |
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相位精度 |
10 nm RMS |
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动态范围 |
> 100 µm |
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采样频率 |
> 60 fps |
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实时分析频率 |
> 10 fps (full resolution) |
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数据接口 |
Giga Ethernet |
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尺寸(w x h x l) |
54 x 46 x 75.3 mm |
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重量 |
~250 g |
更多详情咨询：
https://www.chem17.com/st326217/product_37202980.html
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